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Artigo de periodico
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data (2005)
Ventura, S. D.; Birgin, Ernesto Julian Goldberg ; Martinez, Jesus Manuel; Chambouleyron, Ivan Emílio
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IME
Assunto: FÍSICA
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ABNT
VENTURA, S. D. et al. Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data. Journal of Applied Physics, v. 97, n. 4, 2005Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1849431. Acesso em: 05 maio 2024.
APA
Ventura, S. D., Birgin, E. J. G., Martinez, J. M., & Chambouleyron, I. E. (2005). Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data. Journal of Applied Physics, 97( 4). doi:10.1063/1.1849431
NLM
Ventura SD, Birgin EJG, Martinez JM, Chambouleyron IE. Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data [Internet]. Journal of Applied Physics. 2005 ; 97( 4):[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1849431
Vancouver
Ventura SD, Birgin EJG, Martinez JM, Chambouleyron IE. Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data [Internet]. Journal of Applied Physics. 2005 ; 97( 4):[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1849431
Trabalho de evento-resumo
Cristalização induzida por alumínio em filmes finos de germânio amorfo hidrogenado: o papel do hidrogênio na cristalização (2005)
Chambouleyron, Ivan Emílio; Zanatta, Antonio Ricardo; Muniz, Lucas Romano; Ribeiro, Cristina
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada - ENFMC. Unidade: IFSC
Subjects: SEMICONDUTORES, CRISTALIZAÇÃO, HIDROGÊNIO, FILMES FINOS
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ABNT
CHAMBOULEYRON, Ivan Emílio et al. Cristalização induzida por alumínio em filmes finos de germânio amorfo hidrogenado: o papel do hidrogênio na cristalização. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. . Acesso em: 05 maio 2024.
APA
Chambouleyron, I. E., Zanatta, A. R., Muniz, L. R., & Ribeiro, C. (2005). Cristalização induzida por alumínio em filmes finos de germânio amorfo hidrogenado: o papel do hidrogênio na cristalização. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física.
NLM
Chambouleyron IE, Zanatta AR, Muniz LR, Ribeiro C. Cristalização induzida por alumínio em filmes finos de germânio amorfo hidrogenado: o papel do hidrogênio na cristalização. Resumos. 2005 ;[citado 2024 maio 05 ]
Vancouver
Chambouleyron IE, Zanatta AR, Muniz LR, Ribeiro C. Cristalização induzida por alumínio em filmes finos de germânio amorfo hidrogenado: o papel do hidrogênio na cristalização. Resumos. 2005 ;[citado 2024 maio 05 ]
Artigo de periodico
Estimation of optical parameters of very thin films (2003)
Birgin, Ernesto Julian Goldberg ; Chambouleyron, Ivan Emílio; Martínez, José Mário ; Ventura, S. D.
Source: Applied Numerical Mathematics. Unidade: IME
Assunto: OTIMIZAÇÃO COMBINATÓRIA
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ABNT
BIRGIN, Ernesto Julian Goldberg et al. Estimation of optical parameters of very thin films. Applied Numerical Mathematics, v. 47, n. 2, p. 109-119, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0168-9274(03)00055-2. Acesso em: 05 maio 2024.
APA
Birgin, E. J. G., Chambouleyron, I. E., Martínez, J. M., & Ventura, S. D. (2003). Estimation of optical parameters of very thin films. Applied Numerical Mathematics, 47( 2), 109-119. doi:10.1016/s0168-9274(03)00055-2
NLM
Birgin EJG, Chambouleyron IE, Martínez JM, Ventura SD. Estimation of optical parameters of very thin films [Internet]. Applied Numerical Mathematics. 2003 ; 47( 2): 109-119.[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0168-9274(03)00055-2
Vancouver
Birgin EJG, Chambouleyron IE, Martínez JM, Ventura SD. Estimation of optical parameters of very thin films [Internet]. Applied Numerical Mathematics. 2003 ; 47( 2): 109-119.[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0168-9274(03)00055-2
Artigo de periodico
Optimization problems in the estimation of parameters of thin films and the elimination of the influence of the substrate (2003)
Birgin, Ernesto Julian Goldberg ; Chambouleyron, Ivan Emílio; Martínez, José Mário
Source: Journal of Computational and Applied Mathematics. Unidade: IME
Assunto: PROGRAMAÇÃO NÃO LINEAR
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ABNT
BIRGIN, Ernesto Julian Goldberg e CHAMBOULEYRON, Ivan Emílio e MARTÍNEZ, José Mário. Optimization problems in the estimation of parameters of thin films and the elimination of the influence of the substrate. Journal of Computational and Applied Mathematics, v. 152, n. 1/2, p. 35-50, 2003Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0377-0427(02)00695-7. Acesso em: 05 maio 2024.
APA
Birgin, E. J. G., Chambouleyron, I. E., & Martínez, J. M. (2003). Optimization problems in the estimation of parameters of thin films and the elimination of the influence of the substrate. Journal of Computational and Applied Mathematics, 152( 1/2), 35-50. doi:10.1016/s0377-0427(02)00695-7
NLM
Birgin EJG, Chambouleyron IE, Martínez JM. Optimization problems in the estimation of parameters of thin films and the elimination of the influence of the substrate [Internet]. Journal of Computational and Applied Mathematics. 2003 ; 152( 1/2): 35-50.[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0377-0427(02)00695-7
Vancouver
Birgin EJG, Chambouleyron IE, Martínez JM. Optimization problems in the estimation of parameters of thin films and the elimination of the influence of the substrate [Internet]. Journal of Computational and Applied Mathematics. 2003 ; 152( 1/2): 35-50.[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0377-0427(02)00695-7
Artigo de periodico
Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films (2002)
Chambouleyron, Ivan Emílio; Ventura, S. D.; Birgin, Ernesto Julian Goldberg ; Martínez, José Mário
Source: Journal of Applied Physics. Unidade: IME
Subjects: ALGORITMOS, SEMICONDUTORES, DIELÉTRICOS
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ABNT
CHAMBOULEYRON, Ivan Emílio et al. Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films. Journal of Applied Physics, v. 92, n. 6, p. 3093-3102, 2002Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1500785. Acesso em: 05 maio 2024.
APA
Chambouleyron, I. E., Ventura, S. D., Birgin, E. J. G., & Martínez, J. M. (2002). Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films. Journal of Applied Physics, 92( 6), 3093-3102. doi:10.1063/1.1500785
NLM
Chambouleyron IE, Ventura SD, Birgin EJG, Martínez JM. Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2002 ; 92( 6): 3093-3102.[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1500785
Vancouver
Chambouleyron IE, Ventura SD, Birgin EJG, Martínez JM. Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films [Internet]. Journal of Applied Physics. 2002 ; 92( 6): 3093-3102.[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1500785
Artigo de periodico
Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data (2000)
Mulato, Marcelo; Chambouleyron, Ivan Emílio; Birgin, Ernesto Julian Goldberg ; Martínez, José Mário
Source: Applied Physics Letters. Unidade: IME
Subjects: FÍSICA, ÓPTICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
MULATO, Marcelo et al. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data. Applied Physics Letters, v. 77, n. 14, p. 2133-2135, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1063/1.1314299. Acesso em: 05 maio 2024.
APA
Mulato, M., Chambouleyron, I. E., Birgin, E. J. G., & Martínez, J. M. (2000). Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data. Applied Physics Letters, 77( 14), 2133-2135. doi:10.1063/1.1314299
NLM
Mulato M, Chambouleyron IE, Birgin EJG, Martínez JM. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 77( 14): 2133-2135.[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1314299
Vancouver
Mulato M, Chambouleyron IE, Birgin EJG, Martínez JM. Determination of thickness and optical constants of amorphous silicon films from transmittance data [Internet]. Applied Physics Letters. 2000 ; 77( 14): 2133-2135.[citado 2024 maio 05 ] Available from: https://doi.org/10.1063/1.1314299

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